漆膜儀也叫涂層測厚儀，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，當儀器受到一些自身和外界因素的影響，測量會受到嚴重的干擾，下面來看看有哪些因素影響著測量的精確度。

 

1、磁場的影響：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作，外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應該避免在有干擾作用的外界磁場附近進行測量，殘存的磁場，根據(jù)檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差。

2、表面粗糙度的影響：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響，軟覆蓋層試件在測量中可能會變形，因此也會影響精度，基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大，對測量精度的影響也就越大。

3、測頭壓力的影響：測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定，并應盡可能小，才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降。

4、基體金屬電磁性質(zhì)的影響：
      ①磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準，也可以用待涂覆試件進行校準。
      ②基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)，使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

5、試件變形對測量的影響：測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

6、邊緣效應的影響：測厚儀器對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

7、附著物的影響：儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

8、測頭放置方式及壓力的影響：測頭的放置方式對測量也是有影響的，在測量過程中，應當使測頭與試樣表面保持垂直，從而進行測量，測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。  

9、試件曲率對測量的影響：試件曲率對測量的影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

10、基體金屬厚度的影響：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，測厚測量也受基體金屬厚度的影響。
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